機器の説明

  大面積のイメージングプレートを検出器とするＸ線回折装置。広範囲の2次元回折像を短時間に得ることができます。１次元の測定しかできない通常の回折装置と比べ、情報量が多く、粒径，配向など試料の結晶性などを詳しく知ることができます。温度可変試料台により800℃までの高温で使用でき、温度に伴う結晶構造の変化を測定できます。

設置場所など