機器の説明

  試料の設置自由度の高い試料水平型の多目的Ｘ線回折装置で、状況に合わせて各種光学系と測定条件とを最適化して使用できる汎用性が特徴です。モノクロメータと高速半導体検出器の組み合わせで測定するとCuのK1だけからの高精度の回折図形を得ることができ、複雑な構造を持つ結晶の構造解析に威力を発揮します。試料は14×10mm以上の大きさが必要で、主に粉末試料，多結晶バルク試料での使用を想定しています。－180℃の低温から1300℃の温度範囲の測定が可能です。

設置場所など