機器の説明

試料にＸ線を照射した時に発生する蛍光Ｘ線のエネルギー分散を分析することで試料を構成する元素の種類，含有量を調べる装置。
定性定量分析から，バルクFP法(ファンダメンタルパラメータ法），薄膜FP法を用いたノンスタンダード分析まで対応可能。
測定元素範囲Na～Uでおよそ2ppmの美少量の検出ができる。

※共同利用の際には、希望する測定元素の種類およびその標準試料についての情報の提供すること。

設置場所など