機器の説明

波長分散型の蛍光X線分析装置．

   試料にX線を照射した際に発生する「蛍光X線」の波長を分離・分析することにより、試料を構成する元素の組成を非破壊で高精度に分析できます．
O，Si，Al，Fe，Ca，Mg，Na，K，Ti，P，Mnなどの主要元素（％レベル），およびBa，Ce，Cr，Ga，Nb，Ni，Pb，Rb，Sr，Th，V，Y，Zrなどの各微量元素（ppmレベル）を定量可能です．

X線をピンポイントで照射できるため、試料表面の元素マッピングも可能です．
詳しくは装置の管理者へご相談ください．

設置場所など