複合ビーム観察装置

日本電子 JIB-4700F

 

機器コード: NX01
利用形態: ,
 

機器の説明

ナノメートルレベルで試料を観測すると同時に加工を行うことができる装置です。この機能を使って微細領域の三次元観察を行うことができます。また、反射電子や蛍光X線などを計測することも出来るので、元素や結晶の三次元観察を行うことも出来できます。

設置場所など

設置場所 たたら協創センター
  • 共同利用機器について
  • 共同利用機器一覧(松江地区)
  • 共同利用機器一覧(出雲地区)
  • 設備利用推進室について
  • お問い合わせ

機器カテゴリー