複合ビーム観察装置 日本電子 JIB-4700F 機器コード: NX01 機器カテゴリー: 電子顕微鏡, 試料・材料作製機器, 化学分析 利用形態: 学内利用, 学外利用 貸出フォームへ 機器の説明 ナノメートルレベルで試料を観測すると同時に加工を行うことができる装置です。この機能を使って微細領域の三次元観察を行うことができます。また、反射電子や蛍光X線などを計測することも出来るので、元素や結晶の三次元観察を行うことも出来できます。 設置場所など 設置場所 たたら協創センター