機器の説明

試料にX線を照射することで得られる回折図形を解析することで、物質の同定、結晶構造解析を行うことが出来ます。さらに、結晶配向性、残留応力、粒子径など材料特性に重要な様々な情報を得ることが出来ます。

・最大定格出力：30kV

・ゴニオメータ：θ-θ型試料水平高精度

　　　　　　　　　ゴニオメーター

・解析可能な項目：相の同定 　

                                 結晶子サイズの測定

                                 残留応力の測定

                                 集合組織

設置場所など