- 卓上走査電子顕微鏡 日本電子 NeoScope JCM-5000
- 電子線マイクロアナライザー(EPMA) 日本電子製 JXA-8530F
- 粒度分析器 島津 SALD-3000S
- 元素分析装置 ファイソンズ-CHNS元素分析装置EA1108
- ガスクロマトグラフ質量分析計 島津 GC/MS QP2000A
- ガスクロマトグラフ質量分析計 島津 GCMS-QP5050A
- ガスクロマトグラフ質量分析計 島津 GC/MS QP2010C
- 蒸着装置 アネルバ 反応性5元蒸着装置
- 分光光度計 島津 UV-3100PC
- 超高分解能電子顕微鏡 日本電子 JEM-2010
- パルス通電焼結装置 エス・エス・アロイ製 プラズマンキット CSP-KIT-02121
- ホール効果測定装置 東陽テクニカ製 ResiTest 8300
- 赤外線加熱単結晶育成装置 クリスタルシステムFZ-T-4000-H-I-S-T
- X線回折装置 リガク SmartLab SE
- 単結晶ラウエカメラ ラウエカメラ+X線発生装置
- 蛍光寿命測定システム 堀場製作所製 FluoroCube Model 1000U-YF2
- 分光エリプソメーター
- LED全光束測定システム 大塚電子製 HM-9100SU
- ゼータ電位測定装置 大塚電子製 ELSZ-1F
- 多目的顕微鏡 カールツァイスマイクロイメージング社 Axio Imager M2m
- 内部・外部量子効率測定システム 米国Newport製 IQE-AC-XEN-EXT1