-
走査型電子顕微鏡 日本電子製 JSM-7001FA
-
精密イオン研磨機 GATAN社 Model 691
-
断面試料作製装置 日本電子SM-09010
-
透過電子顕微鏡 日本電子社製JEM-2010
-
卓上型走査電子顕微鏡 日本電子製 JCM-6000Plus
-
卓上型電子顕微鏡 日立ハイテクノロジーズ TM3030Plus
-
卓上走査電子顕微鏡 日本電子 NeoScope JCM-5000
-
電子線マイクロアナライザー(EPMA) 日本電子製 JXA-8530F
-
超高分解能電子顕微鏡 日本電子 JEM-2010
-
薄膜試料作製装置 日本電子 イオンスライサ EM-09100IS
-
卓上顕微鏡 日立ハイテクノロジーズ Miniscope TM-1000S
-
電子顕微鏡 卓上低電圧電子顕微鏡 LVEM5
-
複合ビーム観察装置 複合ビーム観察装置 [FIB-SEM](日本電子 JIB-4700F)
-
卓上電子顕微鏡 卓上電子顕微鏡(日立ハイテク TM4000Plus)
-
電子線マイクロアナライザ[EPMA] 電子線マイクロアナライザ[EPMA](日本電子 JXA-8530F Plus)