- 走査型電子顕微鏡 日本電子製 JSM-7001FA
- 精密イオン研磨機 GATAN社 Model 691
- 断面試料作製装置 日本電子SM-09010
- 透過電子顕微鏡 日本電子社製JEM-2010
- 卓上型走査電子顕微鏡 日本電子製 JCM-6000Plus
- 卓上型電子顕微鏡 日立ハイテクノロジーズ TM3030Plus
- 卓上走査電子顕微鏡 日本電子 NeoScope JCM-5000
- 電子線マイクロアナライザー(EPMA) 日本電子製 JXA-8530F
- 超高分解能電子顕微鏡 日本電子 JEM-2010
- 薄膜試料作製装置 日本電子 イオンスライサ EM-09100IS
- 卓上顕微鏡 日立ハイテクノロジーズ Miniscope TM-1000S
- 電子顕微鏡 卓上低電圧電子顕微鏡 LVEM5
- 複合ビーム観察装置 複合ビーム観察装置 [FIB-SEM](日本電子 JIB-4700F)
- 卓上電子顕微鏡 卓上電子顕微鏡(日立ハイテク TM4000Plus)
- 電子線マイクロアナライザ[EPMA] 電子線マイクロアナライザ[EPMA](日本電子 JXA-8530F Plus)